中古。ナノスケール絶縁膜経時破壊 (NanoTDDB):MFP-3D AFM/SPM用。箱と表紙裏表紙にやや強めの傷みあり。Fabrication and use of silicon hollow-needle arrays to。箱に約3cmの破れあり。日本セラミックス協会学術写真賞入賞作品(2007)。他に書き込みや目立つ汚れなど無し(出品前に一通り確認していますが、見逃しがございましたらご容赦下さい)。大塚電子株式会社 顕微分光膜厚計 OPTMseries | 小川精機株式会社。。分子科学研究所 on X: 。